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SS-PLOT-Silica 可用于分析C4 以下碳氢化合物的异构体。此外,由于水分几乎不会影响保留时间,因此即使样品气体中含有大 量水,也能够保证分析的稳定性。此外,H2S 和COS 等含硫气体也可以在ppm 级进行分离和定量。
C1-C4 烃类的分析
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